蔡司的三维X射线显微镜Versa系列（Xradia 515 Versa, VersaXRM 615, VersaXRM 730）凭借其独特的几何+光学两级放大架构，突破了传统显微CT的局限，能够在远距离下实现高分辨率的无损三维成像。三款型号均搭载了标志性的RaaD™（远距离高分辨率）技术，但定位和性能各有侧重：515 Versa作为一台稳定的“主力平台”，将三维成像分辨率突破至1微米以下（可达500纳米），为中型成像中心提供了经济实用的同步辐射级研究能力；615 Versa则在继承500纳米高分辨率的基础上，引入了通量更高的25W快启射线源和基于FPX的FAST Mode快速扫描模式，并能将扫描时间缩短至1分钟内，显著提升了检测效率；作为旗舰机型的730 Versa更进一步，其最高空间分辨率可达450纳米，并在全电压范围（30-160kV）内都能稳定实现500纳米的分辨率。此外，615和730机型还标配了基于AI的DeepRecon Pro高级重构功能，可进一步提升图像质量与数据处理速度